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第4章 2.テスト容易化設計(DFT)

 LSIも大規模がどんどん進みにテスト時間とテスト品質をバランスよく設計しないとコストに影響するため、テスト容易化設計(DFT)が重要となった。今ではSCANやメモリBISTは当たり前となってきた。さらに、遅延やAC特性の選別のために苦労しているのが現状である。
第4章 2.テスト容易化設計(DFT)
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    カレンダ

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